23948sdkhjf
Logga in eller skapa en prenumeration för att spara artiklar
Få tillgång till allt innehåll på Metal Supply
Ingen bindningstid eller kortinformation krävs
Gäller endast personlig prenumeration.
Kontakta oss för en företagslösning.
Annons
Annons
Innehållet nedan modereras inte i förväg och omfattas därmed inte av webbplatsens utgivningsbevis.
Dela sida
Sponsrat innehåll

Controlled Electron Channeling Contrast Imaging In Scanning Electron Microscopy

Join our webinar on 27th August 2026.

We are thrilled to invite you to our upcoming webinar,"Controlled Electron Channeling Contrast Imaging (cECCI): In Scanning Electron Microscopy", taking place on August 27. This webinar explores how cECCI enables the visualization of crystallographic defects such as dislocations and stacking faults in bulk materials using SEM technology.

Join our expert to learn about:

• The fundamentals of electron channeling contrast imaging,
• How to observe crystal lattice defects in bulk samples with SEM,
• Benefits of cECCI compared to traditional TEM-based approaches
• The role of advanced SEM and crystallographic analysis software in achieving optimal results.

Don’t miss the opportunity to see practical examples, hear application insights, and ask your questions live.

Learn more and reserve your place here.

Carl Zeiss AB
Tegeluddsvägen 76
102 54 Stockholm
Stockholms stad
Sverige
VAT nummer: SE5560353608
Annons Annons
BREAKING
{{ article.headline }}
0.11|